L’Afthermat a récemment organisé une nouvelle session de formation centrée sur la Diffraction des Rayons X et les affinements par la méthode de Rietveld. Celle-ci s’est déroulé sur le campus de l’ICMPE, à Thiais, du 15 au 17 Janvier 2025.

Cette formation avait pour objectif de permettre aux participants de (re)découvrir les concepts fondamentaux de la cristallographie et de la diffraction des rayons X. Les participants ont également pu apprendre à identifier les différentes contributions à un diffractogramme de poudre, ainsi qu’à utiliser la méthode de Rietveld pour analyser un diffractogramme de poudre.

En compléments des aspects théoriques, des éléments de pratique comme les conditions expérimentales ou l’utilisation des grands instruments ont été évoqués. Les participants ont également pu mettre en pratique leurs connaissances théoriques lors de séances de TP.

Merci aux membres de l’association impliqués dans l’organisation de cette formation ainsi qu’aux participants pour cette belle journée d’échanges autour de la diffraction des rayons X !

Pour en savoir plus sur la méthode de Rietveld, vous pouvez consulter ce lien.